EDX-8000E XRF-Spektrometer

Energiedispersives X-Fluoreszenzspektrometer

Einfach das beste

Wofür wird RFA verwendet?

Da RFA den gleichzeitigen Nachweis von Elementen ermöglicht, eignet es sich gut für eine schnelle qualitative, quantitative und semi-quantitative Analyse von Materialien.

Es kann Konzentrationen von 100 Prozent bis unter Teile pro Million erfassen.

Mit entsprechend konfigurierten spektroskopischen Instrumenten kann XRF eine Vielzahl von Elementen abdecken, von Natrium über Magnesium bis hin zu Metallen, die so leicht wie Beryllium sind.

Wer nutzt XRF?

RFA ist eine zerstörungsfreie Analysetechnik und schadet dem zu analysierenden Material nicht.

Das macht es zu einer geeigneten Technik für eine Vielzahl von Branchen und Disziplinen.

Diese schließen ein:

Bergbau

Essen und Trinken

Kontinuierliche Prozessindustrie

Umgebung

Kriminaltechnik

Pharmazeutika

Medizin

Recycling

Forschungslabors und Qualitätskontrolleure verwenden RFA-Techniken.

Diese Analysetechniken sind wichtig für den Unterricht, um sicherere Formulierungen von Pharmazeutika und die Qualität und Sicherheit von Polymeren zu gewährleisten, die in verschiedenen Branchen verwendet werden.

RoHS Compliance Analyzer - Spektrometer EDX-8000E

GG gt; Hintergrund

Was ist RoHS?

Die RoHS-Richtlinie ist eine EU-Rechtsrichtlinie für Umweltvorschriften zur Beschränkung der Verwendung gefährlicher Stoffe. Die Richtlinie schreibt die Entfernung von sechs gefährlichen Stoffen aus elektrischen und elektronischen Geräten (Pb-, Cd-, Cr-, Hg-, Br-Verbindungen) vor.

RoHS beschränkt die Verwendung der folgenden 6 Substanzen:

Führen

Merkur

Cadmium

Chrom VI (auch als sechswertiges Chrom bekannt)

PBB

PBDE (PBB und PBDE sind Flammschutzmittel, die in einigen Kunststoffen verwendet werden)

Jeder entlang der Lieferkette ist dafür verantwortlich, die RoHS-Konformität von der Herstellung bis zur Lieferung sicherzustellen. RoHS ist kein Gesetz; Vielmehr handelt es sich um eine Richtlinie, die die Verwendung von sechs spezifischen Gefahrstoffen bei der Herstellung verschiedener Arten von elektronischen und elektrischen Geräten einschränkt.

RoHS ist eng mit WEEE (Waste Electrical and Electronic Equipment) verbunden, einer weiteren Richtlinie, die Ziele für die Sammlung, das Recycling und die Verwertung von Elektrogeräten festlegt. Elektro- und Elektronik-Altgeräte sind Teil einer Gesetzesinitiative zur Lösung des Problems großer Mengen giftiger Elektroschrott.

EDX-8000E

Um den immer strengeren Testanforderungen der Kunden gerecht zu werden, insbesondere den höheren Standards für Empfindlichkeit und Stabilität beim Testen von Spurenelementen, hat ESI eine aktualisierte Version des EDX8000E --- RoHS-kompatiblen XRF-Detektionsspektrometers neu entwickelt. Im Vergleich zur Basisversion des Si-Pin-Siliziumnadel-Detektors ist der EDX8000E mit dem SDD-Silizium-Driftdetektor der Spitzenklasse ausgestattet. Ein höherer Durchsatz der Röntgenenergiedaten der Probe und eine bessere spektrale Auflösung erhöhen die Detektionsleistung um das 2-3-fache.

Vorteile von EDX8000E:

• Schneller --- Da pro Zeiteinheit ein höherer Abtastsignaldurchsatz erzielt werden kann, wird die Messzeit stark reduziert. 100 Sekunden, um den 200-Sekunden-Messeffekt der normalen Version des Instruments zu erreichen

• Genauer --- Der einzigartige Mehrkanalanalysator DPP kann eine lineare Zählrate von mehr als 100.000 cps erreichen und gleichzeitig die beste spektrale Auflösung gewährleisten, die normalerweise besser als 130 eV (160 eV für gewöhnliche Si-Pin-Detektoren) und separater ist die Spektren verschiedener Elemente gut. Gleichzeitig reduziert die leistungsstarke Windows-basierte FP-Software (Basic Parameter Algorithm) den Absorptionsverbesserungseffekt zwischen Matrixelementen und berücksichtigt unter Berücksichtigung der Interferenz verschiedener Matrizen bei der Änderung der spektralen Intensität die Testgenauigkeit wird auf ein neues Niveau verbessert

• Stabiler --- Mit einem großflächigen 25 mm2 Berylliumfenster-SDD-Detektor (gewöhnlicher Si-Pin-Detektor 6 mm2) kann dieser Detektor unter den gleichen Probenanregungsbedingungen (Zählrate (CPS) die 2-3-fache spektrale Intensität gewöhnlicher Detektoren erzielen ), um eine bessere Teststabilität und langfristige Wiederholbarkeit zu erzielen. Im Vergleich zur herkömmlichen Sipin-Version des Desktop-Instruments kann das EDX8000E-Spektrometer mit voller Leistung betrieben werden, wodurch eine stabilere und zuverlässigere Testleistung erzielt wird

Typischer Testleistungsvergleich (EDX8000 vs. EDX8000E)

Kunststoffprobe 100ppm-Cl-EDX8000 / Kunststoffprobe 100ppm-Cl-EDX8000 E.

Abbildung 2-1 / Abbildung 2-2

GG gt;> Die Abbildungen 2-1 und 2-2 zeigen deutlich, dass 8000E unter den gleichen Testbedingungen ein besseres Cl-Chlor-Testspektrum erhalten hat (der violette Teil in der Abbildung ist die Cl-Element-Spektrallinie und die Cl-Peakform in Die richtige Zahl ist höher. Das Signal-Rausch-Verhältnis ist besser, die Auflösung ist besser und die endgültige Leistung ist ein besseres Testergebnis.

Kunststoffprobe 100 ppm Pb-EDX8000 / Kunststoffprobe 100 ppm Pb-EDX8000E

Abbildung 3-1 Abbildung 3-2

GG gt;> Die Abbildungen 3-1 und 3-2 zeigen deutlich, dass 8000E unter den gleichen Testbedingungen ein besseres Pb-Bleitestspektrum erhalten hat (der grüne Teil im Bild ist die Pb-Elementspektrumlinie und die Pb-Peakform in Das richtige Bild ist höher. Das Signal-Rausch-Verhältnis ist besser, die Auflösung ist besser und die endgültige Leistung ist ein besseres Testergebnis.

EDX8000 FP-Softwarefunktionen

GG gt; XRF-FP-Funktionen • Bis zu 40 Elemente können gleichzeitig analysiert werden

GG gt; Unterstützt die Messung der Massezusammensetzung, Zusammensetzung und Dicke einer einzelnen Schicht oder der Zusammensetzung von bis zu 4 Schichten

GG gt; Beinhaltet die vollständige Korrektur von Verlusten aufgrund von Luftdämpfung, Detektor-Be-Fenstern, Detektor-Totschichten, dem aktiven Volumen des Detektors und Filtern, die zwischen Röhrchen und Probe oder zwischen Probe und Detektor eingesetzt sind.

Diese werden aus den Benutzereingabeparametern berechnet, die die Anregungsquelle, den Detektor und die Spektrometergeometrie definieren

GG gt; Spektrumverarbeitungsparameter umfassen Größen zur Definition des Hintergrundkontinuums, Stapel- und Summenspitzen, Glättung und ein gemessenes Hintergrundspektrum für Spitzen

GG gt; Beinhaltet vollständige Korrekturen für die Absorption und sowohl die Dick- als auch die Dünnschicht-Sekundärfluoreszenz, dh alle Matrixeffekte, Verstärkung und Absorption. Alle möglichen Linien werden sowohl für die Anregung als auch für die Fluoreszenz berücksichtigt.

GG gt; Die Intensität des Photopeaks kann als Gaußsche Funktion modelliert werden, indem die Nettofläche des Peaks integriert wird oder eine gemessene Referenz-Photopeak-Antwort verwendet wird.

GG gt; Lineare oder nichtlineare Entfaltung. Bei der nichtlinearen Entfaltung werden der Schwerpunkt und die Auflösung der Peaks für die optimale Anpassung angepasst.

GG gt; Die quantitative Analyse kann unter Verwendung eines reinen Grundparameteransatzes, von Grundparametern mit Streuungsverhältnissen (für Proben, die große Mengen an Materialien mit niedrigem Z-Gehalt enthalten) oder durch einfache Anpassung der kleinsten Quadrate durchgeführt werden.

GG gt; Die grundlegende Parameteranalyse kann auf der Kalibation eines einzelnen Multielement-Standards, mehrerer Standards oder keiner Standards basieren. Die standardlose Analyse erfordert eine genaue Definition der Röhren-, Detektor-, Umgebungs- und Geometrieparameter.

GG gt; Kundenspezifischer Bericht

Die PC-Berichtssoftware von EDX8000 kann angepasst werden und kann sofort Berichte erstellen, einschließlich Analyseergebnisse, Probeninformationen, Spektruminformationen und Probenbilder. Die rückverfolgbare Dokumentation macht EDX8000E zu einem idealen Tool für RoHS-Konformitätstests

GG gt; Technische Daten

Abmessungen: 550 mm * 525 mm * 350 mm

Gewicht: 45 kg

Leistungsbedarf: Ausgestattet mit 100 VAC bis 240 VAC, 50 Hz bis 60 Hz, 150 Watt Stromversorgung

Anode: Rh oder Ag

Detektor: Amptek SDD

Umgebungstemperaturbereich: -10 ° C bis 50 ° C (14 ° F bis 122 ° F)

Kamera und Kollimator: Integriert in die Messgeometrie; Kleinpunktkollimator; wählbare Durchmessergrößen je nach Probengröße

Element Suite-Standardprobe (ERM-Standard): Pb, Cr, Hg, Br, Cd, Cl, As, Ba, Sb

Zubehörteil

GG gt; Standard	GG gt; Optional
Ag-Kalibrierungsstandard	Leistungsstabilisator
Vakuumpumpe	RoHS CRM-EC681M
Probenbecher
USB-Kabel
Stromkabel
Testen Sie Mylar
Kalibrierungsbericht
Garantiekarte

Über uns

ESI (Efficiency Scientific Instrument Co., Ltd.) wurde 2010 gegründet, um das Hochspannungs-Röntgennetzteil herzustellen. Ab 2012 begann ESI mit der Entwicklung und Herstellung der Röntgenröhren und des DPP (Digital Pulse Processor). Im Jahr 2019 wurde ESI mit Htek Instrument fusioniert, einem Hochtechnologieunternehmen und anerkannter Marktführer bei der Entwicklung und Herstellung von hochmodernen Röntgenfluoreszenzspektrometern.

Mit der kombinierten technologischen Erfahrung und den Vorteilen, die in beiden Unternehmen in den letzten Jahren gesammelt wurden, ist ESI heute ein weltweiter Marktproduzent von fortschrittlichen Röntgenfluoreszenzsystemen für Komplettlösungen in der Elementaranalyse mit Tausenden von Maschinen, die weltweit installiert und in Betrieb sind. Jedes Jahr wird ein hoher Prozentsatz seines Umsatzes in R& D investiert, um die Analyseleistung zu verbessern

ESI ist ein in SIP (Suzhou Industry Park, China) ansässiges Unternehmen, das sich auf RFA-Instrumente (Röntgenfluoreszenz) für zerstörungsfreie Materialanalyse, Schichtdickenmessung und Materialprüfung spezialisiert hat. Unsere Mission ist es, ein robustes, benutzerfreundliches xrf-Analysesystem bereitzustellen, das die schwierigsten Anforderungen an die Elementanalyse erfüllt.

Tisch-RFA-Spektrometer

Handheld XRF Analyzer

Tragbarer RFA-Schwefel im Ölanalysator

Online XRF Element Analyzer

XRF Gold Tester

XRF-Schichtdickenanalysator

http://de.esi-xrf.com/